Объектом исследования является установка для экспресс-измерения углов наклона и углов между гранями у прозрачных в видимом диапазоне пластин. Был рассчитан диапазон значений углов, которые можно измерить при помощи данной установки. Сформулированы ограничения на качество исследуемой поверхности: среднеквадратичная шероховатость не должна превышать 50 нм. Продемонстрированы возможности измерения и расчеты коэффициентов отражения образцов из сапфира, кварца и полиметилакрилата.
Установка, описанная в данной статье, может также применяться для измерения углов уникальной разработки команды НаноСкан – двустороннего прозрачного алмазного индентора.
В №1 за 2024 г. журнала Наноиндустрия вышла статья «МИКРОСФЕРИЧЕСКИЕ АЛМАЗНЫЕ НАКОНЕЧНИКИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ МЕТОДОМ ИНСТРУМЕНТАЛЬНОГО ИНДЕНТИРОВАНИЯ» (авторы: А.С.Кушнерева, И.В.Лактионов, А.С.Усеинов, С.В.Орлов, Е.С.Статник, П.А.Сомов). С ней можно ознакомиться по ссылке: https://www.nanoindustry.su/journal/article/10215
Установка, описанная в данной статье, может также применяться для измерения углов уникальной разработки команды НаноСкан – двустороннего прозрачного алмазного индентора.
В №1 за 2024 г. журнала Наноиндустрия вышла статья «МИКРОСФЕРИЧЕСКИЕ АЛМАЗНЫЕ НАКОНЕЧНИКИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ МЕТОДОМ ИНСТРУМЕНТАЛЬНОГО ИНДЕНТИРОВАНИЯ» (авторы: А.С.Кушнерева, И.В.Лактионов, А.С.Усеинов, С.В.Орлов, Е.С.Статник, П.А.Сомов). С ней можно ознакомиться по ссылке: https://www.nanoindustry.su/journal/article/10215
