ПРИМЕНЕНИЕ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКИ В ИНДЕНТИРОВАНИИ

С развитием вычислительной техники практически все области человеческого знания получили возможность повысить точность измерений по сравнению с эпохой аналоговых устройств. Исключением не стала и сфера исследования физико-механических свойств. Определение значений твердости по методу Виккерса (https://nanoscan.info/metodiki/izmerenie-mikrotverdosti-po-vikkersu) зависит от сфокусированности изображения как при автоматизированном определении длин диагоналей остаточного отпечатка, так и при работе оператора.

Команда НаноСкан предложила использовать альтернативный классическим алгоритмам, основанным на подстройке яркости и контрастности, подход к разработке системы фокусировки микроскопа при индентировании. Были рассмотрены алгоритмы на основе дисперсии, функции Лапласа и функции вейвлет-преобразования. Это позволило подобрать оптимальные значения базиса и глубины преобразования при использовании вейвлет-преобразования.

В качестве исследуемых материалов были взяты образцы со слабой контрастностью, с шероховатой поверхностью, а также материалы, на которых образуются валы в процессе индентирования. Применение различных функций фокусировки в зависимости от положения микроскопа на различных образцах продемонстрировало более высокую стабильность алгоритма с вейвлет-преобразованием.

Эти результаты вошли в статью «Трехмерные Изображения Полей Остаточных Деформаций, Полученные Методом Вейвлет-преобразования», которая сейчас находится на рассмотрении в журнале «Приборы и техника эксперимента». Ожидаемый срок публикации – 4 квартал 2024 года. В данной работе также можно будет ознакомиться с возможностью построения полностью сфокусированного кадра и псевдотрехмерной карты образца.

Нормированные значения функций фокусировки в зависимости от положения микроскопа на образце меди: 1 – дисперсия, 2 – функция Лапласа, 3 – вейвлет преобразование