Программное обеспечение приборов семейства «НаноСкан» это:

  • автоматизированное проведение измерений методами инструментального наноиндентирования, склерометрии, силовой спектроскопии, сканирующей зондовой и атомно-силовой микроскопии;
  • возможность задания параметров тестов с помощью оптического микроскопа или по изображению рельефа поверхности, полученного методами СЗМ/АСМ;
  • высокопроизводительная пакетная обработка экспериментальных данных наноиндентирования с применением новейших методов параллельных вычислений;
  • возможность гибкой настройки протокола индентирования;
  • язык макро-команд, позволяющий реализовывать произвольную последовательность измерений в автоматическом режиме;
  • широкий набор математических функций, позволяющих проводить различные преобразования, построение спектров, фильтрацию полученных двух и трехмерных данных, а также аппроксимацию кривых построение двумерных (топографических) и трехмерных (объемных) карт распределения твердости и модуля упругости в зависимости от пространственных координат;
  • расчет измеряемых значений механических свойств и параметров шероховатости в полном соответствии с действующими стандартами (ГОСТ и ISO)
  • .