«НаноСкан-Компакт 2D»

НаноСкан-Компакт

Спецификация

Режимы измерений: Контактный динамический режим сканирования
(рельеф поверхности / карта распределения модуля упругости).
Шаг по XY: 1.5 нм ; Шаг по Z: 0.15 нм
Индентирование /склерометрия
(с макс. нагрузкой до 20 гр.)
Силовая спектроскопия
Диапазоны измеряемых значений: Твердость: до 80 ГПа
Модуль упругости: до 1000 ГПа
Поле сканирования: XY – до 100 мкм
Z — до 10 мкм
Кантилевер: Пьезо-кантилевер
Инденторы: Алмазная пирамида типа Берковича
Размер образцов: до 50 х 50 мм
до 40 мм по высоте
до 1 кг по весу
Система позиционирования образцов: XY: до 50 мм, ручная
Z: до 40 мм с шагом 1 мкм, моторизованная

 

 


«НаноСкан-Компакт 1D»

НаноСкан-Компакт 1D

Раздел в стадии разработки