31 января 2014 года на Научной Сессии НИЯУ МИФИ будет представлен доклад на тему «РАЗВИТИЕ МЕТОДОВ УПРАВЛЕНИЯ СКАНИРУЮЩИМИ ЗОНДОВЫМИ МИКРОСКОПАМИ СЕМЕЙСТВА «НАНОСКАН»». Докладчики: А.А. РУСАКОВ, В.В. МЕЩЕРЯКОВ, А.С. УСЕИНОВ.

Доклад будет представлен в рамках секции «ПРОБЛЕМЫ ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ В СОВРЕМЕННЫХ НАУКОЕМКИХ ТЕХНОЛОГИЯХ».

Время начала заседания секции: 10:00.

Место заседания: аудитория К-608 (корпуск «К», этаж 6).

Приглашаются все желающие. Для прохода на территорию института необходимо иметь с собой паспорт, а также знать название секции и конференции, к которой она относится («Радиационные технологии») и фамилию руководителя секции (Троян В.И.).

Подробнее с программой секции можно ознакомиться по адресу: http://nsession.mephi.ru/prog/24.html

Добавить комментарий

Ваш e-mail не будет опубликован. Обязательные поля помечены *